XRF (X-Ray Fluorescence Spectrometry)

E-mail Afdrukken PDF

XRF-scanHet monster wordt bestraald met laagenergetische röntgenstralen. De aangestraalde atomen in het monster zenden daardoor fluorescentiestraling uit die voor elk element een ander energieniveau heeft. Deze stralen worden opgevangen door een detector die ze omzet in een elektrisch signaal.

M.b.v. bekende signalen van standaarden waarmee het apparaat gekalibreerd is, kan met een PC de concentratie in het monster worden berekend. De hoeveelheid door de detector opgevangen pulsen van een bepaald energieniveau is een maat voor de concentratie van een element in het monster. Met XRF kan dus zowel kwalitatief (welk element is aanwezig) als kwantitatief (hoeveel van het element is aanwezig) onderzoek worden uitgevoerd.

De voor- en nadelen:

  • Het grote voordeel van XRF is dat het volledig non-destructief is;
  • Doordat de röntgenstralen met een collimator tot een zeer smalle bundel (0,5 micron) worden gevormd, is het mogelijk om zelfs de kleinste onderdelen van een monster te onderzoeken (zoals de plaats waar is getoetst);
  • Naast gehaltebepaling kan XRF ook gebruikt worden voor laagdiktemetingen van zilverlagen (tot ca. 60 micron) en goudlagen (tot ca. 8 micron);

XRF vergt vrijwel geen monstervoorbereiding. Omdat XRF een oppervlaktetechniek is, moet het te onderzoeken voorwerp ter plaatse van het meetpunt, wel eerst worden ontdaan van een eventuele opperlaag.

xrf